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太阳能/半导体
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德国布鲁克 DektakXT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)可以提供更高的重复性和分辨率,测量.....
新型Dektak XTL探针式轮廓仪系统可容纳多大350mm*350mm的样品,将Dekt.....
薄膜厚度指的是基片表面和薄膜表面的距离,而实际上,薄膜的表面是不平整,不连续的,且薄膜内部.....
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